四川大學(xué)設(shè)備招標采購信息公示
編號：G000031
標的名稱: 光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)
標書編號:
采購臺（套）數(shù): 1
使用單位: 材料學(xué)院
公示時間：2010 年 12月 28 日 至 2011 年 1月 4 日
參數(shù)討論時間：待定
公示說明：此公示的目的是充分創(chuàng)造條件讓供貨商參與我校該項目的競標，因此，請各供貨商本著支持我校工作和維護自身權(quán)益的態(tài)度和精神，認真審閱如上公布的初步技術(shù)要求，重點審核技術(shù)要求與相應(yīng)功能及用途的相關(guān)性和合理性，有意見的供貨商可在公示時間內(nèi)提出書面意見和建議，單位簽字蓋章后以快遞或當面遞交的形式交到我辦。
聯(lián)系電話***
聯(lián)系地址***
技術(shù)咨詢聯(lián)系人***
主要功能及用途見附件。
初步要求（技術(shù)參數(shù)、主要配置、售后要求等）見附件。
備注：

光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格書
（標★的為必須滿足的條款）


1 簡述
1.1 設(shè)備名稱：光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)
1.2 數(shù)量：1套
1.3 設(shè)備主要功能：
1.3.1測量單結(jié)太陽電池的光譜響應(yīng)
★1.3.2測量雙結(jié)太陽電池的光譜響應(yīng)
★1.3.3測量三結(jié)太陽電池的光譜響應(yīng)
1.4 設(shè)備滿足標準：ASTM E1021-05，或 IEC 60904-8
2 設(shè)備構(gòu)成及主要技術(shù)參數(shù)
2.1 設(shè)備使用單光源雙光路結(jié)構(gòu)。從氙燈主光源發(fā)出的光，經(jīng)過分光系統(tǒng)后分成兩路，一路用于照射待測太陽電池，另一路用于照射監(jiān)控光強探測器，同時進行待測器件響應(yīng)測量和光強監(jiān)控。設(shè)備主要包括：光源、分光系統(tǒng)、探測器、控制及軟件系統(tǒng)
2.2 主光源：
★2.2.1氙燈主光源
2.2.2主光源指標
★2.2.2.1 工作波長：300nm～1400nm或更寬
2.2.2.2 穩(wěn)定性：≦0.3% rms /小時
2.2.2.3 紋波：≦0.3% rms
★2.2.2.4 測量光斑：可調(diào)，寬度可調(diào)到2mm以下
2.3 偏置光源
★2.3.1配兩路獨立偏置光源，均為連續(xù)白光
★2.3.2配置三個濾光片座和1組濾光片
★2.3.3每組光輻照強度0～150mW/cm2 可調(diào)
★2.3.4每組光輻照面積不小于直徑10 mm（圓形），或大于10 mm×10 mm的方形或長方形
2.4 分光系統(tǒng)
2.4.1采用多光柵單色儀
2.4.2波長分辨率：0.1nm
★2.4.3波長準確度：±0.2nm @632.8nm（可進行He-Ne激光校準核驗）
2.4.4雜散光：＜0.001 %
2.4.5光學(xué)斬波器
2.4.5.1 頻率范圍：10Hz～200Hz或更寬
★2.4.5.2 頻率可連續(xù)設(shè)定
★2.4.5.3 頻率設(shè)定精度：0.1Hz或更高
2.4.6掃描間隔：1nm～50nm或更寬范圍
2.5 探測器
2.5.1標準探測器
2.5.1.1 光譜校準范圍：280－1400nm
★2.5.1.2 NIST溯源，帶NIST認證機構(gòu)出具的標定證書
2.5.2光強監(jiān)測探測器
2.5.2.1 實時監(jiān)測每次測量時的光強值
2.5.2.2 工作波長：300nm～1400nm
★2.5.2.3 NIST溯源
2.6 樣品臺：可測量共面電極結(jié)構(gòu)的單結(jié)、多結(jié)薄膜太陽電池樣品臺
2.7 主機控制及軟件系統(tǒng)：
2.7.1主控計算機可以實現(xiàn)
★2.7.1.1控制單色儀并進行測量范圍、掃描間隔設(shè)置
★2.7.1.2控制斬波器并進行頻率設(shè)置
★2.7.1.3控制濾光片座的加載
2.7.1.4自動控制數(shù)據(jù)采集、存儲
2.7.2軟件系統(tǒng)主要功能包括
2.7.2.1光譜校準
2.7.2.2測量曲線實時監(jiān)測、繪制
2.7.2.3可導(dǎo)入待測電池的其他分光光度計測量的反射譜和透射譜數(shù)據(jù)，用于內(nèi)量子效率和外量子效率的計算
★2.7.2.4 可由測量數(shù)據(jù)計算器件的短路電流密度
2.8 系統(tǒng)整體性能要求
2.8.1系統(tǒng)測量準確度
★2.8.1.1 400-1000nm：≦±1.0%
★2.8.1.2 300-400nm：≦±2.0%
★2.8.1.3 1000-1100nm：≦±2.0%
2.8.1.4 1100nm-1400nm：≦±2.5%
2.8.1.5 驗收測試方法：使用單獨的單晶硅標準太陽電池（帶NIST或PTB認證的機構(gòu)標定的證書， NREL、PTB或JQA溯源）進行驗收測試，在系統(tǒng)校準程序完成后，測量標準太陽電池的外量子效率，將測量值與標準電池校準證書的數(shù)值進行比較，系統(tǒng)測量準確度定義為，要求達到2.8.1.1、2.8.1.2、2.8.1.3條所列指標
★2.8.1.6 2.8.1.5測試中，在掃描波長范圍300-1100nm、掃描間隔10nm測量條件下，測量時間小于4分鐘
2.8.2系統(tǒng)重復(fù)測量精度
★2.8.2.1 400-1000nm：≦±0.3%
★2.8.2.2 300-400nm：≦±0.6%
★2.8.2.3 1000-1100nm：≦±0.6%
2.8.2.4 1100nm-1400nm：≦±0.6%
2.8.2.5驗收測試方法：使用單獨的單晶硅標準太陽電池（NIST或PTB認證的機構(gòu)標定的證書， NREL、PTB或JQA溯源）進行驗收測試。在系統(tǒng)校準程序完成后，測量標準太陽電池的外量子效率。重復(fù)測量3次，每次間隔10分鐘以上。第一次、第二次的重復(fù)測量精度定義為，任意兩次的重復(fù)測量精度定義為。要求達到2.8.1.1、2.8.1.2、2.8.1.3條所列指標
★2.8.2.6 2.8.2.5測試中，在掃描波長范圍300-1100nm、掃描間隔10nm測量條件下，測量時間小于4分鐘
2.9 偏置電壓：
2.9.1范圍：±2.5V或更寬
2.9.2計算機控制實現(xiàn)負偏置電壓、正偏置電壓轉(zhuǎn)換
2.9.3計算機控制實現(xiàn)偏置電壓的調(diào)節(jié)
2.10技術(shù)業(yè)績：
★2.10.1提供國內(nèi)外安裝使用擬投標設(shè)備的客戶名單和詳細聯(lián)系方式（聯(lián)系人***
★2.10.2提供可以進行實驗驗證的設(shè)備安裝使用單位和管理人員聯(lián)系方式***
2.10.3 2.10.1、2.10.2所述設(shè)備配置應(yīng)同于或高于本技術(shù)規(guī)格書的要求，如存在差異，應(yīng)予以說明。
2.10.4 2.10.1、2.10.2所述設(shè)備功能、主要技術(shù)指標應(yīng)等于或高于本技術(shù)規(guī)格書的要求，如存在差異，應(yīng)予以說明
2.11電源要求： 220V±10%， 50Hz